M.Sc. Felix Neumeister
- Wissenschaftlicher Mitarbeiter
- Sprechstunden: nach Vereinbarung
- Raum: 3.03
- Tel.: +49 721 608-46412
- felix neumeister ∂does-not-exist.kit edu
- Felix Neumeister, M.Sc.
Forschungsbereich Telematik
Institut für Telematik
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Gebäude 01.99
Kaiserstraße 40
D-76133 Karlsruhe
Allgemeines
Interessengebiete:
- Echtzeitkommunikation
- Smart Grid
- Software-Defined Networking (SDN)
- Traffic Engineering
- Staukontrolle
Projekte
- KASTEL Security Labs: Topics: Engineering Secure Systems, Adaptive Security for Communication in Critical Infrastructures (ASCII)
Lehre
| Titel | Art |
|---|---|
| Einführung in Rechnernetze | Vorlesung |
| Internet of Everything | Vorlesung |
| Praxis der Softwareentwicklung | Praktikum |
| Proseminar | Seminar |
| Titel | Forschungsthema |
|---|---|
| Arbeiten im Themengebiet "industrielle Netze" | Industrielle Netze |
| Titel | Forschungsthema |
|---|---|
| Achieving redundant UDP Transmission using eBPF | Industrielle Netze |
| Knotendisjunktes QoS-Routing in TRUST-Netzwerken | Routing |
| Smart Grid Simulation Using an Event-Based Network Simulator | Smart Grid |
| Implementierung und Vergleich zweier redundanter Routingalgorithmen in Ryu | Routing |
| Duplikation und Deduplikation von UDP-Paketen als Linux Kernel-Modul | Industrielle Netze |
Publikationsliste
TRUST Issues: Multicast and Integrity Protection for the TRUST Redundancy Mechanism
Neumeister, F.; Zitterbart, M.
2024. 2024 IEEE International Conference on Industrial Technology (ICIT), 1–6, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). doi:10.1109/ICIT58233.2024.10540910
Neumeister, F.; Zitterbart, M.
2024. 2024 IEEE International Conference on Industrial Technology (ICIT), 1–6, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). doi:10.1109/ICIT58233.2024.10540910
TRUST: Transparent Redundancy for UDP STreams
Neumeister, F.; Göckel, M.; Zitterbart, M.
2023. IEEE 21st International Conference on Industrial Informatics (INDIN 2023), 7 S., Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). doi:10.1109/INDIN51400.2023.10218145
Neumeister, F.; Göckel, M.; Zitterbart, M.
2023. IEEE 21st International Conference on Industrial Informatics (INDIN 2023), 7 S., Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). doi:10.1109/INDIN51400.2023.10218145
SEED: Towards a Shared Evaluation Environment for Software-Defined-Network Applications
König, M.; Neumeister, F.; Dittebrandt, A.
2017, Mai 31. 1st SENDATE Workshop on Evaluation and Reproducibility (2017), Karlsruhe, Deutschland, 31. Mai 2017
König, M.; Neumeister, F.; Dittebrandt, A.
2017, Mai 31. 1st SENDATE Workshop on Evaluation and Reproducibility (2017), Karlsruhe, Deutschland, 31. Mai 2017
SEED: Towards a Shared Evaluation Environment for Software-Defined-Networking Applications
König, M.; Neumeister, F.; Dittebrandt, A.
2017, Dezember 4. 9th SDN Workshop (2017), Zürich, Schweiz, 4. Dezember 2017
König, M.; Neumeister, F.; Dittebrandt, A.
2017, Dezember 4. 9th SDN Workshop (2017), Zürich, Schweiz, 4. Dezember 2017
Towards a Shared Evaluation Environment for Software Defined Networking Applications
König, M.; Neumeister, F.; Dittebrandt, A.
2017, Oktober 13. 1. KuVS Fachgespräch "Network Softwarization" – From Research to Application (2017), Tübingen, Deutschland, 12.–13. Oktober 2017
König, M.; Neumeister, F.; Dittebrandt, A.
2017, Oktober 13. 1. KuVS Fachgespräch "Network Softwarization" – From Research to Application (2017), Tübingen, Deutschland, 12.–13. Oktober 2017
Towards a Shared Evaluation Environment for Software-defined Networking
Dittebrandt, A.; König, M.; Neumeister, F.
2017. INFORMATIK 2017 Hrsg.: Eibl, Martin, Maximilian AND Gaedke, 2413–2423, Gesellschaft für Informatik (GI). doi:10.18420/in2017_246
Dittebrandt, A.; König, M.; Neumeister, F.
2017. INFORMATIK 2017 Hrsg.: Eibl, Martin, Maximilian AND Gaedke, 2413–2423, Gesellschaft für Informatik (GI). doi:10.18420/in2017_246
The Smart Grid: A Use-Case for Large-Scale SDN Deployment
Neumeister, F.; Zitterbart, M.
2022. 3. KuVS Fachgespräch "Network Softwarization" (7.4. - 8.4.2022). 3. KuVS Fachgespräch "Network Softwarization" (online) 7./8.4.2022, Universitätsbibliothek Tübingen. doi:10.15496/publikation-67443
Neumeister, F.; Zitterbart, M.
2022. 3. KuVS Fachgespräch "Network Softwarization" (7.4. - 8.4.2022). 3. KuVS Fachgespräch "Network Softwarization" (online) 7./8.4.2022, Universitätsbibliothek Tübingen. doi:10.15496/publikation-67443
Poster: FFBquick: fast convergence to fairness for delay-bounded congestion controls
Hock, M.; Bless, R.; Neumeister, F.; Zitterbart, M.
2019. 2019 IFIP Networking Conference (IFIP Networking), Warsaw, Poland, 20-22 May 2019, 1–2, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). doi:10.23919/IFIPNetworking46909.2019.8999402
Hock, M.; Bless, R.; Neumeister, F.; Zitterbart, M.
2019. 2019 IFIP Networking Conference (IFIP Networking), Warsaw, Poland, 20-22 May 2019, 1–2, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). doi:10.23919/IFIPNetworking46909.2019.8999402
TCP at 100Gbit/s - Tuning, Limitations, Congestion Control
Hock, M.; Veit, M.; Neumeister, F.; Bless, R.; Zitterbart, M.
2019. Proceedings of the 44th Annual IEEE Conference on Local Computer Networks (LCN 2019), Osnabrück, 14.-17. Oktober 2019, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Hock, M.; Veit, M.; Neumeister, F.; Bless, R.; Zitterbart, M.
2019. Proceedings of the 44th Annual IEEE Conference on Local Computer Networks (LCN 2019), Osnabrück, 14.-17. Oktober 2019, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
TCP LoLa: Congestion Control for Low Latencies and High Throughput
Hock, M.; Neumeister, F.; Zitterbart, M.; Bless, R.
2017. 42nd IEEE Conference on Local Computer Networks, LCN 2017; Singapore; Singapore; 9 October 2017 through 12 October 2017, 215–218, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). doi:10.1109/LCN.2017.42
Hock, M.; Neumeister, F.; Zitterbart, M.; Bless, R.
2017. 42nd IEEE Conference on Local Computer Networks, LCN 2017; Singapore; Singapore; 9 October 2017 through 12 October 2017, 215–218, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). doi:10.1109/LCN.2017.42